青智功率分析仪电抗器等被动原件低功率因数测量
电抗类被动元件的青智损耗测量
新时代的电力半导体上，对被动元器件的功率功率损耗提出更高要求，要求即使在高速切换的分析时候也要能抑制损耗（发热）。
被动元件（电抗器）中的仪电因数发热例
功率分析仪的电抗器损耗测量示例
在测量高速开关时被动元器件的损耗时，其高频的抗器相位特性是测量的关键
为了满足上面的要求我们提供了以下的新技术
① 提升相位精度
针对特殊电相角对仪表进行校对。
② 相位补偿配套有内部存储器的等被动原电流传感器，将各传感器的测量相位补偿值记录在存储器中，根据各传感器个体的青智补偿值自动校正电流传感器的相位误差。通过功率分析仪8962A1和新电流传感器组的功率功率组合来实现。
本文地址：http://flash.zyjoo.com/html/32e3299935.html
版权声明
本文仅代表作者观点，不代表本站立场。
本文系作者授权发表，未经许可，不得转载。